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                          封裝與芯片的兩種LED分選方法
                          編輯:葉子 [ 2011-7-29 8:51:32 ] 文章來源:LED大屏網

                          封裝與芯片的兩種LED分選方法  

                          LED的測試與分選是LED生產過程中的一項必要工序。目前,它是許多LED芯片和封裝廠商的產能瓶頸,也是LED芯片生產和封裝成本的重要組成部分。

                          對于不同顏色波長的光人眼的敏感度是不同的。例如,對于波長是585nm光,當顏色變化大于1nm時,人眼就可以感覺到;而對于波長為650nm的紅光,當顏色變化在3nm的時候,人眼才能察覺到。

                          LED的分選方法

                          LED的分選有兩種方法:一是以芯片為基礎的測試分選,二是對封裝好的LED進行測試分選。

                          (1)芯片的測試分選

                          LED芯片分選難度很大,主要原因是LED芯片尺寸一般都很小 , 從 9mil 到 14mil(0.22-0.35nm)。這樣小的芯片需要微探針才能夠完成測試,分選過程需要精確的機械和圖像識別系統,這使得設備的造價變得很高,而且測試速度受到限制,F在的LED芯片測試分選機價格約在100萬元人民幣\臺,其測試速度在每小時10000只左右。如果按照每月25天計算,每一臺分選機的產能為每月5KK.

                          目前,芯片的測試分選有兩種方法:

                          一種方法是測試分選由同一臺機器完成,它的優點是可靠,但速度很慢,產能低;另一種方法是測試和分選由兩臺機器完成,測試設備記錄下每個芯片的位置和參數,然后把這些數據傳遞到分選設備上,進行快速分選、這樣做的優點是快速,但缺點是可靠性比較低,容易出錯。

                          (2)LED的測試分選

                          封裝后的LED可以按照波長、發光強度、發光角度以及工作電壓等進行測試分選。其結果是把LED分成很多檔(Bin)和類別,然后測試分選機會自動地根據設定的測試標準把LED分裝在不同的Bin盒內。早期的分選機是32Bin,后來增加到64Bin,現在已有72Bin的商用分選機。

                          LED測試分選機是在一個特定的工作臺電流下(如20mA),對LED進行測試,一般還會做一個反向電壓值的測試,F在的LED測試分選機價格約在40~50萬人民幣/臺,其測試速度在每小時18000只左右。如果按照每月25天,每天20小時的工作時間計算,每一臺分選機的產能為每月9KK.大型顯示屏或其他高檔應用客戶,對LED的質量要求較高。特別是在波長與亮度一致性的要求上很嚴格。假如LED封裝廠在芯片采購時沒有提出嚴格的要求,則這些封裝廠在大量的封裝后會發現,封裝好的LED中只有很少數量的產品能滿足某一客戶的要求。

                          從以上關于LED與LED芯片分選取的分析中可以看出,比較經濟的做法是對LED進行測試分選。但是由于LED的種類繁多,有不同的形式,不現的形狀,不同的尺寸,不同的發光角度,這使用權得完全通過LED測試分選取進行產品的分選變得很難操作。
                           
                          分選設備

                          目前,LED芯片的測試分選設備主要由美國和日本廠商提供,而LED的測試分選設備大多由臺灣地區、香港廠商提供,中國大陸還沒有能提供類似設備的廠家。LED芯片分選機主要包括兩大硬件部分(機器手、微探針和光電測試儀)和一套系統軟件,而這三部分分別由不同廠家提供再集成起來;而LED測試分選取機則包括LED的機械傳輸,儲存和光電測試兩部分。

                          LED分選取技術發展趨勢

                          (1)在外延片的均勻度得到控制以前,研發快速低成本芯片分選工藝和設備。
                          (2)隨著W級功率LED技術的發展,傳統LED產品參數檢測標準及測試方法已不能滿足照明應用的需要,須開發全新的測試標準和方法,包含更多的與照明相關的光學內容。
                          (3)在LED系統壽命測試中,研發LED系統的長期性能和壽命快速測定評價技術。

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